一般检测方法有:
1、金相法
2、库仑法
3、X-ray 方法
适用范围
金相法:
采用金相显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um,才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大,误差越小。
库仑法:
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray 方法:
适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系,或同时测量三层组分的厚度和成分。
测试原理
金相法:
利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。
库仑法:
利用适当的电解液阳极溶解jingque限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。
X-ray 方法:
X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
样品要求
金相法:
由于金相法测样品的厚度为局部厚度,对于一些厚度不一致的样品,需要客户指定具体部位。如没有特殊要求,我们将自行取一个较均匀的部位进行测量。
库仑法:
目前我们只能测平面的镀层厚度,样品需要至少一个5 mm2平面。
X-ray 方法:
其面积至少大于0.05×0.25mm
附:电镀层的质量评价标准
电镀层质量检查的内容包括镀层的外观、厚度、与基体金属的结合力、延展性、显微硬度、脆性、耐蚀性、耐磨性、可焊性等。虽然具体质量检查的内容因零件和镀层而异,但镀层的外观、厚度、耐蚀性和与基体金属的结合力是所有镀层都必须检查的内容。电镀层的质量检查方法和评判,各个国家有各自制定的国家标准,也有统一的guojibiaozhun;不同的企业也制定有相应的企业标准。
1)镀层的外观
镀层的外观是任一零件、任一镀种都必须检查的项目之一。通常,镀层的外观是在自然光照下直接用肉眼观察的。其内容包括锻层的宏观均匀性、颜色、光亮度、结晶状况和宏观结合力等。一般来说,镀层除应有其特有的颜色和光泽外,还应均匀、细致、结合力好,不允许有针孔、条纹、起泡、起皮、毛刺、结瘤、麻点、烧焦、开裂、剥离、脱落、不正常色泽或漏镀等。但对于挂镀件,一般允许挂钩处有轻微缺陷。
2)镀层的厚度
要保证零件的使用性能,零件表面的镀层必须达到一定的厚度。常用的镀层厚度测量方法包括破坏性和非破坏性两大类。破坏性测厚法包括阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等;非破坏性测厚法包括机械量具法、磁性法、涡流法、β射线反向散射法、x射线分光法等。采用这些方法测量镀层的厚度时请参照相应的国家标准。
3)镀层的耐蚀性
评定镀层耐蚀性的试验方法主要有两大类:自然环境试验和人工加速腐蚀试验。前者包括使用环境下的现场试验和不同气候条件下的大气暴露试验,这类方法可真实地评定镀层的耐蚀性,但缺点是周期太长;后者包括中性盐雾试验(nss)醋酸铜加速试验(cass)、腐蚀膏试验、电解腐蚀试验、工业性气体腐蚀试验、湿热试验等。所有这些耐蚀性试验都有相应的国家标准,其规定了试验的条件和评价方法。
4)镀层的结合力
电镀层与基体金属的结合力(也称结合强度)的检验方法有很多,但都是定性的测试。常见的镀层结合力的测试方法有摩擦抛光试验、剥离试验、锉刀试验、划格划线试验、弯曲试验、热振试验、深引试验等。不同的方法适用于不同的镀层,也有不同的评定标准,具体使用时可査阅相应的国家标准。
检测标准及参数:
测试标准 | 标准名称 | 参数 | 测试内容 | 适用范围 |
GB/T 4956-2003 | 磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层厚度测量 磁性法 | 硬化层深度测定 | 试样的覆盖层厚度 | 具有非磁性覆盖层的磁性基体金属 |
GB/T 4957-2003 | 非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层厚度测量 涡流法 | 试样的覆盖层厚度 | 具有非磁性覆盖层的非磁性基体金属,一部分阳极氧化膜 | |
GB/T 16921-2005 | 金属覆盖层 覆盖层厚度测量 X射线光谱方法 | 试样的测量位置、覆盖层厚度、结果的标准偏差 | 具有覆盖层的金属 |