扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm;放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调;并且景深大, 视野大, 成像立体效果好。此外, 扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合, 可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用。
电镜的分类：
1、扫描电子显微镜，简称SEM,其应用范围主要是材料形貌，组织观察；
2、透射电子显微镜，简称TEM,其主要的应用范围为观察纳米粒子的形貌、评估纳米粒子的粒径；
3、SEM-EDS联用测定仪，简称SEM-EDS，其主要应用范围为材料形貌，组织观察。元素定性半定量分析，针对粉末或者较小的固体样品，可以进行点、线、面扫描测试。
本公司可提供专业扫描电镜测试，包括SEM测试、场发射检测服务。